Набор XPhase для следующего поколения AMD процессоров

Компания International Rectifier предлагает новый чипсет архитектуры Xphase – набор микросхем управления IR3521 и IR3529 для высокопроизводительных AMD процессоров нового поколения. Микросхема IR3521 поддерживает высокоскоростной I2C последовательный интерфейс для организации полного контроля системы. При этом микросхема поддерживает любое число фазовых микросхем, управляющих одной фазой.

При использовании микросхемы управления IR3521 с фазовой микросхемой IR3529 достигается значительное повышение эффективности работы источника питания при малых нагрузках. Фазовая микросхема имеет индикатор состояния питания для повышения эффективности использования энергии при небольших нагрузках, улучшенную связь по включению нагрузки, а также ряд новых функций, которые позволят значительно улучшить переходные характеристики конвертера при уменьшении габаритных размеров и стоимости изделия.

При использовании новых микросхем с транзисторами DirectFET в блоках AMD процессоров разработчики получат возможность создания источника питания меньших размеров, легкоинтегрируемого в конкретные задачи и обеспечивающего высокую эффективность преобразования в полном диапазоне нагрузки.

Микросхема управления IR3521 имеет выходы как для VDD ядра, так и для дополнительных VDDNB плат, используемых AMD процессорами, высокоскоростные усилители ошибок с широкой полосой пропускания 20 МГц и высокую скорость нарастания сигнала 10 В/мкс. Усилители датчиков предоставляют данные дифференциальных измерений при токе смещения менее 50 мкА.
Также, новый прибор имеет широкие возможности программирования, включающие программирование динамической скорости нарастания напряжения идентификация (VID), напряжения смещения VID, выходного импеданса и др.

Фазовая микросхема IR3529 имеет драйверы затвора 7 В/4 А и поддерживает индукционное измерение тока без внесения потерь, а также выходное напряжение до 5.1 В. Прибор имеет поцикловую защиту от превышения по току для устранения переходных процессов высокой повторяемости.

Спецификация